內(nèi)存穩(wěn)定性測(cè)試

MemTest 能夠?qū)τ?jì)算機(jī)內(nèi)存進(jìn)行詳盡的穩(wěn)定性測(cè)試，包括讀/寫測(cè)試、隨機(jī)讀/寫測(cè)試、塊復(fù)制測(cè)試等，以檢測(cè)內(nèi)存中的數(shù)據(jù)是否可靠。

兼容性測(cè)試

在使用多內(nèi)存條的系統(tǒng)環(huán)境中，MemTest 能夠檢測(cè)不同內(nèi)存條之間的兼容性問(wèn)題，幫助用戶避免因內(nèi)存條不兼容而導(dǎo)致的系統(tǒng)不穩(wěn)定現(xiàn)象。

后臺(tái)靜默測(cè)試

MemTest 允許用戶在后臺(tái)靜默測(cè)試計(jì)算機(jī)內(nèi)存，不會(huì)干擾到正常使用。這一功能使得用戶可以在不影響工作的情況下，持續(xù)進(jìn)行內(nèi)存檢測(cè)，確保系統(tǒng)的穩(wěn)定運(yùn)行。

錯(cuò)誤日志記錄

MemTest 會(huì)自動(dòng)在磁盤上保存錯(cuò)誤日志，便于用戶將錯(cuò)誤報(bào)告發(fā)送給銷售商或進(jìn)行后續(xù)的分析和排查。此外，如果機(jī)器崩潰或關(guān)機(jī)時(shí)，用戶也可以讀取錯(cuò)誤日志來(lái)查找原因。

支持多語(yǔ)言版本

MemTest 提供了多種語(yǔ)言版本，包括中文，方便不同語(yǔ)言環(huán)境的用戶使用。